При оценке надежности цифровых устройств применяют стандартные экспериментальные методы, ориентированные на информацию, получаемую от эксплуатирующих организаций.
Информации о надежности выпускаемых изделий анализируют за разные промежутки времени, например, за:
Данная статья посвящена анализу информации по 10 блокам типа А (рис. 1, а) и 15 блокам типа Б (рис. 1,б), возвращенным эксплуатирующими предприятиями за календарный месяц.
Такое количество возвращенных изделий соответствует 0,03 обращения на 100 блоков, находящихся в эксплуатации и 0,14 обращения на 100 блоков, выпущенных за предыдущий год [2]
При возвращении любых блоков определяют средний срок ввода изделий в эксплуатацию после отгрузки, наработку до отказа и другие характеристики на основании информации о дате отгрузки, времени хранения у потребителя до момента ввода изделия в эксплуатацию и продолжительности эксплуатации изделия перед его возвращением изготовителю (рисунок 1).
Рисунок 1 Информация об отгрузке, хранении и эксплуатациивозвращенных блоков
Информация о сроках хранения изделий у потребителя от даты отгрузки до даты ввода в эксплуатацию используется для оценки показателей сохраняемости изделий [3].
Для 25 блоков, возвращенных в рассматриваемый месяц, среднее время, прошедшее с даты отгрузки изделия до момента его ввода в эксплуатацию
составило 11,9 месяца для изделий типа А и 7,53 месяца для изделий типа Б (рисунок 2).
Рисунок 2 Средние значения времени:- от отгрузки до возврата;- от отгрузки до ввода в эксплуатацию;- эксплуатации.
Таким образом, потребитель успевает ввести изделие в эксплуатацию за время, практически в 2 раза меньше среднего срока сохраняемости, установ-ленного в технических условиях на изделия [4].
Для каждого из возвращенных изделий на предприятии-изготовителе
выясняют причину его возврата.
Например, из десяти блоков типа А один был возвращен из-за механи-ческого повреждения печатной платы эксплуатирующим персоналом спустя 1 месяц после ввода блока в эксплуатацию (рис. 3).
Рисунок 3 Причины возврата блоков типа А
Причинами возврата шести блоков были:
Наконец, ещё 3 блока были возвращены из-за ошибки программного обеспечения ПрО, выявленной потребителем.
Причины возврата блоков типа Б имеют несколько иной характер, так как
7 блоков из 15 были возвращены из-за подачи пользователем на измеритель-ный вход напряжения, превышающего 300 В, что привело к повреждению резисторов (рисунок 4).
Рисунок 4 Причины возврата блоков типа Б
Причина повреждения программного обеспечения, которое может быть изменено пользователем, в одном из возвращенных не установлена.
В одном из возвращенных блоков отказало реле, шесть из 15 блоков были возвращены из-за отказа интегральных микросхем. При этом две из шести интегральных микросхем отказали после 27 и 39 месяцев эксплуатации, а четыре – во время пуско-наладочных работ.
Информация о времени отгрузки и возвращения блоков (см. рисунок 1) позволила определить характер распределения отказов для блоков типа А во времени. При построении диаграммы (рисунок 5) из рассмотрения были исключены четыре случая возврата блоков, не связанные с их надежностью :
Рисунок 5 Распределение отказов в возвращенных блоках типа А во времени
При построении аналогичной диаграммы для блоков типа А из рассмот-рения были исключены возвраты блоков, в которых по вине эксплуатирующего предприятия повреждены резисторы (7 случаев) и блока с поврежденным по неустановленной причине программным обеспечением.
Рисунок 6 Распределение отказов в возвращенных блоках типа Б во времени
Сравнение диаграмм, приведенных на рисунках 3, 4, 5 и 6 подтверждает случайный характер распределения отказов во времени для блоков, возвращенных изготовителю за один месяц.
[1] От использования резонаторов этого типа предприятие отказалось несколько лет назад, сразу же после получения первых претензий к работе блоков с элементам этого типа.
Анонимный пользователь
В журнале "Вести в электроэнергетике" вышла статья под названием "Как не нужно оценивать надежность микропроцессорных устройств релейной защиты", демонстрирующая, как стремление к наживе любыми средствами на НТЦ "Механотроника" приводит к неправильной оценке надежности производимых этим предприятием МУРЗ. Эта ущербная во всех отношениях методика предложена и внедрена на НТЦ "Механотроника" О. Захаровым
http://www.gurevich-publications.com/articles_pdf/reliability_estimation_r.pdf
Maxim Arsenev
Вышла статья , описывающая метод оценки показателей сохраняемости цифровых устройств
http://rza.org.ua/blog/a-47.html
лингвист
Специально для анонимного пользователя - мифорелиста. О том, как не надо писать о надежности сказано здесь: http://olgezaharov.narod.ru/nenado.html
О проблемах в системе понятий , характерных для мифорелиста написано здесь:
http://www.rza.org.ua/blog/a-32.html
Как говорит один из создателей цифровых устройств - учи матчасть! Изучай азы теории надежности, мифорелист!