Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
От производителя
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии. Настольная книга материаловеда.
30 декабря 2025 в 16:04
58
26 декабря 2025 в 23:00
76
26 декабря 2025 в 17:50
73
26 декабря 2025 в 14:14
85
26 декабря 2025 в 12:59
84
25 декабря 2025 в 19:49
84
25 декабря 2025 в 16:39
82
24 декабря 2025 в 17:27
81
24 декабря 2025 в 16:55
86
24 декабря 2025 в 16:17
131
Никто пока не комментировал эту страницу.