Нанометрология
От производителя
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
30 декабря 2025 в 16:04
48
26 декабря 2025 в 23:00
63
26 декабря 2025 в 17:50
62
26 декабря 2025 в 14:14
75
26 декабря 2025 в 12:59
74
25 декабря 2025 в 19:49
71
25 декабря 2025 в 16:39
72
24 декабря 2025 в 17:27
71
24 декабря 2025 в 16:55
77
24 декабря 2025 в 16:17
116
Никто пока не комментировал эту страницу.